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光刻胶涂布工艺
来源:《半导体工艺基础精讲》#半导体#显影去胶工艺 | 作者:pmoe2a7d5 | 发布时间: 2024-01-16 | 1521 次浏览 | 分享到:

吸收光能: 感光剂吸收曝光光线的能量,进入激发态。

化学变化: 激发态的感光剂与光刻胶中的其他化合物发生化学反应,导致局部的化学结构改变。

形成图案: 经过曝光后,通过显影过程,只有发生化学变化的区域被保留下来,形成所需的图案。

       不同类型的光刻胶可能使用不同的感光机理,但以上步骤提供了一般的概述。光刻胶的性能和效果对芯片制造的成功至关重要。负性光刻胶由感光材料+聚合物组合,光照射后进一步聚合,不溶于显影液的有机溶剂,光照射区保留图形。正性光刻胶由光分解剂和碱性可溶性树脂及溶剂组成,为重氮茶醒磺酸醋及线性酚醛制成。光照射后氮气脱离,变成酮结构。用碱性水溶液显影变成水溶性的羟酸,然后被去除,即没有被光照的区域留下图形。

三、要求

中短波长段的可见光使光刻胶 感光,因此,光刻区域与普通洁净室是隔开的,采用不会使光刻胶感光的照明光源,称为黄光区。光刻胶涂布工艺时,转速越高,薄膜厚度越薄;光刻胶黏度越高,薄膜厚度越厚。晶圆边缘会出现膜厚稍厚的部分,为边缘堆积,则需要进行边缘冲洗,还要进行背面冲洗,防止光刻胶测流到晶圆背面。显影工艺中负性光刻胶使用甲苯、乙酸乙酯显影液,去除没有发生光聚合反应的部分。正性光刻胶使用氢氧化铵显影液,溶解被光照射的部分。